節省反復測量任務的時間，快速采集三維幾何形狀和表面數據已成為與生產相關的質量保證流程中最具決定性的標準之一。

您還在使用傳統的三坐標（CMM) 測量儀嗎？您想提高工作效率嗎？您想使用最新的高效率，高精度，適用于自由曲面數據獲取的光學測量系統嗎？本份白皮書向您介紹 最新技術：德國ZEISS光電技術有限公司利用光柵投影原理研發生產的COMET系列三維 光學掃描系統。

本份白皮書介紹了創新的三維光學掃描量測系統/技術（ZEISS OPTOTECHNIK 三維光學掃描 COMET 系列, T-SCAN 系列） 與傳統接觸式測頭量測系統/技術之間的區別。